Dirk Steiner, manažér obchodného rozvoja v spoločnosti Yxlon, sa intenzívne zaoberá priemyselnou počítačovou tomografiou od roku 2004 a naskenoval a analyzoval viac ako 1 000 súborov údajov. Tu máte možnosť pozrieť si záznam webinára Today's Metrology Live od spoločnosti GIE Media a vypočuť si, ako sa náročné metrologické úlohy spoľahlivo riešia pomocou počítačovej tomografie. Spoločnosť Yxlon bola prítomná spolu s výrobcami ďalších technológií súvisiacich s metrológiou, aby poskytla komplexný prehľad riešení.

Dirk hovoril o najnovších trendoch v metrológii pomocou priemyselnej počítačovej tomografie (CT) a o tom, ako sú údaje kľúčom k získaniu informácií, ktoré výrobcovia potrebujú na zvýšenie efektívnosti a zníženie nákladov. Pre výrobcov je najdôležitejšia vysoká kvalita ich výrobkov. Pri "okrúhlom stole" diskutovalo päť účastníkov o tom, ako môžu ich riešenia pomôcť výrobcom dosiahnuť tento cieľ. Meranie a analýza vnútorných štruktúr je však možná len pomocou CT.

Na jednu z položených otázok Dirk odpovedal: "CT je netaktická metóda, takže v procese nemeníme geometriu. Môžeme vidieť vnútorné štruktúry a pri dnešnom veľkom trende aditívnej výroby neexistujú žiadne obmedzenia toho, čo môžete navrhnúť a vytlačiť. Pomocou CT sa môžeme pozrieť dovnútra a zmerať veci, ktoré sú buď podrezané, alebo dokonca skryté vo vnútri súčiastky. Okrem toho získavame aj údaje z defektov, vnútorných chýb, ktoré samy o sebe nemajú nič spoločné s metrológiou. Takže zabíjame dve muchy jednou ranou."